阻隔膜厚度測量儀K-xray
- 品 牌：
- 型 號：K-xray
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技術(shù)資料：
KUNDIG阻隔膜厚度測量儀K-XRAY.pdf
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產(chǎn)品介紹
K-XRAY Rotomat KT是一款適用于吹膜生產(chǎn)線在線測厚的系統(tǒng)，可實時測量薄膜厚度。其產(chǎn)生的19千電子伏特強度X射線，即使在極薄薄膜上也能實現(xiàn)高分辨率厚度測量。
憑借這些獨特特性，K-XRAY Rotomat KT成為測量阻隔薄膜的解決方案。
即使面對極薄且具有觸感功能的阻隔膜，K-XRAY Rotomat KT傳感器的測量精度依然能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率厚度檢測。該技術(shù)基于X射線后向散射原理，并采用溫度可控的氣墊系統(tǒng)。通過搭載專利彎曲臂的振蕩掃描儀，該設(shè)備能夠以快速度直接在阻隔膜生產(chǎn)線的氣泡上測量厚度分布曲線。
性能特點
- 傳感器與薄膜間設(shè)有溫控氣隙（獨特功能）
- 相較于壓區(qū)后置測量儀，可更快獲取厚度曲線
- 操作許可流程簡便，優(yōu)于固態(tài)輻射設(shè)備
- 采用X射線后向散射實現(xiàn)輻射測量（獨特功能）
- 配備彎曲臂的振蕩掃描儀
技術(shù)參數(shù)
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產(chǎn)地 |
瑞士 |
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電氣接口 |
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電源 |
110-240 VAC，50/60 Hz 或 24VDC |
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功耗 |
max100 VA |
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厚度測量 |
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測量原理 |
電容式厚度傳感器（適用于任何非導(dǎo)電材料） |
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測量頻率 |
1 MHz |
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測量范圍 |
10至300 µm（300 µm以上可定制） |
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測量間隔 |
50毫秒 |
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分辨率 |
0.1微米 |
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校準(zhǔn)后精度 |
10至30微米區(qū)間：±0.5微米 |
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30微米以上：±2% |
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校準(zhǔn)厚度范圍內(nèi)線性度（±10%） |
優(yōu)于2% |
產(chǎn)品應(yīng)用
- 主要采用非接觸式測量圓柱形薄膜氣泡厚度
- 適用于聚乙烯（PE）、聚丙烯（PP）、聚酰胺（PA）、乙烯-乙醇酸共聚物（EVOH）、熱塑性聚氨酯（TPU）及類似材料制成的阻隔膜
- 適用于粘性薄膜
津公網(wǎng)安備12010102000945號
